即是IC測試治具的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)，頂上是IC芯片，中心是探針，通過準(zhǔn)確定位探針能夠很準(zhǔn)確測觸摸零點(diǎn)幾的焊盤和錫球。
由于IC測試治具適用于功能性測試的，那么有很多特別的功能芯片，就需要不一樣的規(guī)劃，例如大電流，需要規(guī)劃大電流探針或許大電流的觸摸塊；例如，高頻，需要同軸連接器，或許說需要需要做好阻隔；又例如，數(shù)模轉(zhuǎn)換芯片，需要做好數(shù)模地的切割，所以做治具的時(shí)分需要判斷PCB的地切割狀況來規(guī)劃。
FCT測試治具的針選用對(duì)治具成本聯(lián)系大，現(xiàn)在測試探針分國產(chǎn)、臺(tái)灣香港、進(jìn)口三種。進(jìn)口產(chǎn)品一般是德國、美國、日本的產(chǎn)品，品牌有INGUN、TCI、日電、華榮、中探、亞探等等。測試探針的質(zhì)量主要體現(xiàn)在原料、鍍層、彈簧、套管的直徑精度及制造工藝?，F(xiàn)在包含國內(nèi)的產(chǎn)品其原料許多用進(jìn)口原料，所以除非是偷工減料一般探針原料問題不是很大，針及套管的直徑精度方面國內(nèi)與臺(tái)灣香港的產(chǎn)品差不多。
IC測試治具探針的選用對(duì)治具本更大，現(xiàn)在測試探針分國產(chǎn)、臺(tái)灣香港、進(jìn)口三種。一般進(jìn)口產(chǎn)品是德國、美國、日本的產(chǎn)品，檢測探頭的質(zhì)量主要體現(xiàn)在材料、涂層、彈簧、套管的直徑和生產(chǎn)過程中。現(xiàn)在，國內(nèi)許多產(chǎn)品的進(jìn)口材料，彈簧和進(jìn)口產(chǎn)品比國內(nèi)的好許多的涂層質(zhì)量，臺(tái)灣與香港比國內(nèi)略微好。其主要原因是，在技術(shù)水平上差異，國內(nèi)探針涂層容易掉落。假如一個(gè)生產(chǎn)測試夾具使用時(shí)間和頻率超越1500萬倍以上的挑選進(jìn)口產(chǎn)品是比較合適的，但進(jìn)口的探頭價(jià)格更貴重。
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